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超聲掃描顯微鏡

產品描述:超聲掃描顯微鏡DANA-QC210 用於對材料科學,半導體行業等相應產品的內部缺陷檢測,利用高速線性馬達運動係統,對產品進行水浸C 掃描檢測,全波列采集超聲波信號,利用成像算法和數據圖像處理功能,對產品內部的缺陷進行有效識別,得到內部清晰圖像,並統計分析缺陷位置、形狀和尺寸,生成自定義報告。
  • 產(chan) 品型號

    DLT-QC-210
  • 廠商性質

    生產廠家
  • 更新時間

    2024-06-25
  • 訪問量

    1334次

超聲波C 掃描檢測係統 DLT-QC-210

產(chan) 品介紹

超聲掃描顯微鏡

超聲掃描顯微鏡DANA-QC210 用於(yu) 對材料科學,半導體(ti) 行業(ye) 等相應產(chan) 品的內(nei) 部缺陷檢測,利用高速線性馬達運動係統,對產(chan) 品進行水浸C 掃描檢測,全波列采集超聲波信號,利用成像算法和數據圖像處理功能,對產(chan) 品內(nei) 部的缺陷進行有效識別,得到內(nei) 部清晰圖像,並統計分析缺陷位置、形狀和尺寸,生成自定義(yi) 報告。

二、產(chan) 品特點 FEATURES

適用產(chan) 品:芯片、塑料封裝IC、PCB、金屬基板、晶片、半導體(ti) 電子行業(ye) ;Applicable products: chips, plastic packaging IC, PCB, metal substrates,

檢測結果穩定性、 一致性高;

High stability and consistency of test results;

高速定位,快速成像;

High-speed positioning and fast imaging;

操作簡單,使用安全,檢測結果格式多樣化;

Simple operation, applicable safety, flexible and varied formats of test results;


技術參數 SPECIFICATIONS

運動係統/Motion system  

XY軸掃描範圍/Scanning range of XY axis 300*300mm   (可定製/Customizable)

掃描速度/Scanning speed                                 1000mm/s

重複精度/Repetition precision                                 1um


超聲發射接收/   Ultrasonic emission and reception

工作頻率範圍/Operating frequency range 0.5MHz~60MHz

激勵脈衝(chong) 形式/Excitation pulseform                 方波/Square wave

工作溫度/Working temperature                 -10℃~+50℃

采樣率/Sampling rate                                 100MHz,  可支持,GHz/100MHz,Support IGHz

重複頻率/Repetition frequency                  20khz

數據傳(chuan) 輸率/Data transfer rate                                  5G

采樣點數/Sampling points                                  4K (可定製)/4K(Customizable)

增益調節/Gain adjustment                                 -13~66dB 連續1dB 可調/- 13~66dB  continuous  IdB  adjustable


軟件功能/Software function

A、B、C、D掃描圖像                                                  界麵跟蹤、區域重掃

A,B,C, D scanning imaging                                  Interface tracking, area re-scanning

多種特征成像方式/Multiple imaging methods  多種數據處理、圖像處理方式

                                                                                  Multiple data processing and image processing methods

缺陷定位統計分析/                                                       數據庫統計、自定義(yi) 報告模板/

Statistical analysis of defect location                         Database statistics, customizable report template



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  • DLT-QC-110水浸超聲掃描顯微鏡
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