如何校準矽酸根測定儀？

矽酸根測定儀(yi) 校準項目
(1)外觀檢查；(2)絕緣電阻(首檢)；(3)分析儀(yi) 示值誤差；(4)分析儀(yi) 重複性；(5)分析儀(yi) 零點漂移；(6)分析儀(yi) 量程漂移
矽酸根測定儀(yi) 校準的項目指標
(1)示值誤差校準(用引用誤差)
在SiO2含量為(wei) 0~50 u g / mL的範圍內(nei) ，示值誤差不大於(yu) 其量程的2.0%在SiO2含量為(wei) 0~200 u g / mL的範圍內(nei) ，示值誤差不大於(yu) 其量程的2.5%。
(2)分析儀(yi) 重複性的校準(用多次測量的標準偏差表示)分析儀(yi) 重複性測量的標準偏差不大於(yu) 1.5%。
(3)分析儀(yi) 零點漂移的校準：在15min內(nei) 應不超過1.0 u g / mL。
(4)分析儀(yi) 量程漂移的校準：在15min內(nei) 應不超過2.0 u g / mL。