得利特解析體積電阻率測定儀介質損耗因數的定義

體(ti) 積電阻率測定儀(yi) 介質損耗因數的定義(yi) ：
介質損耗因數tgδ隻與(yu) 材料特性有關(guan) ,與(yu) 材料的尺寸、體(ti) 積無關(guan) ,便於(yu) 不同設備之間進行比較。
電阻率測定儀(yi) 應用介質損耗因素及電阻率測定儀(yi) 測量介質損耗因數tgδ判斷電氣設備的絕緣狀況是一種傳(chuan) 統的、十分有效的方法。它能反映出絕緣的一係列缺陷,如絕緣受潮,油或浸漬物髒汙或劣化變質,絕緣中有氣隙發生放電等。這時流過絕緣的電流中有功分量IRX增大了,tgδ也加大。
按照電力設備預防性試驗規程的規定,對多種電力設備(如電力變壓器、發電機組、高壓開關(guan) 、電壓電流互感器、套管、耦合電容等)都需要做介質損耗因素(tgδ)的測量。
所以tgδ試驗是一項*而且非常有效的試驗。能較靈敏地反映出設備絕緣情況,發現設備缺陷。
電阻率測定儀(yi) 主要用於(yu) 測量炭製品和石墨製品以及其它導電棒狀材料在實驗室常溫下的電阻率，包括粉體(ti) 材料。