鏡麵汙染對露點儀測量的影響

鏡麵汙染對露點儀(yi) 測量的影響
在露點測量中，鏡麵汙染是一個(ge) 突出的問題，其影響主要表現兩(liang) 個(ge) 方麵;一是拉烏(wu) 爾效應，二是改變鏡麵本底放射水平。拉烏(wu) 爾效應是由水溶性物質造成的。如果被測氣體(ti) 中攜帶這種物質(一般是可溶性鹽類)則鏡麵提前結露，使測量結果產(chan) 生正偏差。若汙染物是不溶於(yu) 水的微粒，如灰塵等，則會(hui) 增加本底的散射水平，從(cong) 而使光電露點儀(yi) 發生零點漂移。此外，一些沸點比水低的容易冷凝的物質(例如有機物)的蒸氣，不言而喻將對露點的測量產(chan) 生幹擾。因此，無論任何一種類型的露點儀(yi) 都應防止汙染鏡麵。一般說來，工業(ye) 流程氣體(ti) 分析汙染的影響是比較嚴(yan) 重的。但即使是在純氣的測量中鏡麵的汙染亦會(hui) 隨時間增加而積累。